Nanopositionnement

Pour toute demande relative à nos platines de positionnement, merci de prendre dorénavant contact avec la société PIEZOCONCEPT:

 

Micropositionnement

Platines Feinmess Platines Mechonics

 

Microscopie à force atomique

Ntegra plateform Solver platform

Nanoeducator plateform AFM probes

 

Produits de microscopie

Platine automatisée MS-2000 XYZ Platine automatisée MS-4000 XYZ

Contrôleur MS-2000 Platine linéaire LS-50

Microscopes techniques CRIFF: Continuous Reflective Interface Feedback Focus system

PZ-2000 automated stages with piezo Z-axis top plate RAMM: Rapid Automated Modular Microscope

Thermo plate : Clear Glass Heating Stage Tables optiques

Fast flasks scanning

 

Metrologie optique

Banc de mesure de focale, rayon de courbure	Banc de mesure de FTM
Autocollimateur, téléscope, lunette d'alignement	Interféromètre de fizeau instantané
Déflectomètre plan	Mesure d'épaisseur
Goniomètre	Sphéromètre
Ellipsomètre	Analyseur de front d'onde

 

Metrologie des lasers

Alignement de faisceau laser	Analyseur de faisceau laser	Puissance mètre

 

Science des matériaux

Banc de mesure de tension de surface

Diamond scriber : Appareil permettant la découpe de wafers

Ellipsomètre

 

Optiques de précision

Hublots, lentilles, microlentilles, miroirs plans et paraboliques, séparatrices, filtres notch, prismes, cristaux non linéaires, polariseurs

 

Caméra thermographique

Caméra thermographique

 

Lasers et sources

Lasers

Lasers (Femtosecond)

Sources lumineuses

Lasers (Picosecond)

 

Détecteurs

Rayons X et détecteurs gamma

Détecteur de photos ultra rapide

Analyseur et spectromètre de luminescence